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貴重儀器

低溫陰極螢光分析系統

低溫陰極螢光分析系統

儀器名稱
中文名稱:低溫陰極螢光系統
英文名稱:Crygenic Cathodoluminescence system
英文簡稱:CL
儀器地點:基礎科學教學大樓SC023室

儀器廠牌、型號、購置年限
廠牌:JEOL
型號:JSM7001F
購置年限:2007

重要規格
1.電子槍:場發射型式
2.加速電壓:0.5 to 30kV
3.倍率:25-200,000倍
4.樣品最大容許範圍:15mm直徑×10mm高
5. 解析力:1.5nm (15kV)、3.0nm ( 1 kV)

服務項目
1.本設備之博士後研究人員提供委託操作CL(陰極螢光分析系統)與SEM(掃瞄式電子顯微鏡)及服務諮詢,
諮詢服務時間:每週一至五上午八時到下午五時,地點:工程六館EF757室
2.室溫、低溫(6K)及變溫陰極螢光分析

備註:
˙A級:開放給需要使用之學生,經訓練考核後可自行操作。
˙B級:每位教授指派一位學生申請訓練,該教授之其他學生需由接受訓練的學生代為操作,若有教授使用該儀器之學生過多者,可向儀器負責人申請增加接受訓練學生人數。
˙C級:由儀器負責人選定教授推薦之學生若干人接受訓練,經考核後可自行操作儀器並得負責委託服務工作。
˙D級:由本實驗室之技術人員接受委託服務,不開放使用。

收費標準

服務項目 內容 收費標準
室溫陰極螢光分析 半導體材料、光電材料、太陽能電池材料、有機半導體材料以及一般凝態材料的室溫陰極螢光掃瞄。偵測波段涵蓋紫外-可見-紅外光波段(200-1700 nm)。 學術單位:NT1700/時
非學術單位:NT3000/時
低溫及變溫螢光分析 半導體材料、光電材料、太陽能電池材料、有機半導體材料以及一般凝態材料的低溫及變溫之陰極螢光分析,溫度範圍:6 K-300 K,分析範圍包含單光影像、泛光影像、波長譜線分析等。偵測波段涵蓋紫外-可見-紅外光波(200-1700nm)。 學術單位:NT4000/時
非學術單位:NT6000/時

開放時間表
週一至週五:上午08:30-12:30(本校優先登記),下午13:00-17:00(外校優先登記)。

聯絡人
儀器專家:周武清教授 TEL:03-5712121ext56129
儀器操作與諮詢服務:溫華強博士後研究員 TEL:03-5712121ext56109

申訴電話及信箱
徐忠璇小姐 TEL:03-5712121轉31534、31248,03-5131534
賴卓君小姐 TEL:03-5712121轉31775,03-5731775
中心專線電話:TEL:03-6116690

管理辦法及使用辦法
1.本服務採取時段預約,請於實驗前以校內分機56109或電0939-387-612,與儀器操作員確認實驗條件與樣品製備。
2.本系統每週開放服務5 天,每天上午8:00-8:30 下午12:30-13:00 及17:00-18:00 為設備維護保養時間。
3.本系統服務以二小時為一單元,總計每週開放服務二十單元。
4.每週有十單元由校外計畫優先預約使用,十單元由校內計畫優先預約使用。
5 優先預約時段至使用前七天內無人預約,則開放其它計畫或單位預約使用。
6.預約後欲取消須於24 小時之前告知,違者停止預約資格一個月。
7.一年內累積爽約3 次,停止預約資格六個月。
8.不當使用造成設備受損,除其指導老師負責賠償外,使用者停止其使用資格。
9.若預約時段與助教training時段相衝,以助教training優先。
10.若預約時段與廠商儀器維護時段相衝,以儀器維護優先。
11.請共同維護室內的整潔,不要將食物帶入實驗室之內,離開時請將椅子排放整齊。
12.門禁電腦請勿任意關機,更嚴禁安裝任何遊戲及非法軟體,不可變更系統設定及上網。
13.實驗室內之所有設備、軟體屬於系上財產,不可偷竊及破壞,否則追究相關責任。
14.為大家及儀器狀況著想,請每位使用者切勿為個人之私而影響大家使用權利,故以上規則請大家確實遵守,如有違者,將視情節輕重予以警告或停權,謝謝!

實驗範例